新三板創(chuàng)新層公司南麟電子新增專利信息授權(quán)：“芯片測(cè)試選擇電路及芯片測(cè)試系統(tǒng)”

每經(jīng)訊，據(jù)啟信寶，新三板創(chuàng)新層公司南麟電子（831394）新增專利信息，專利權(quán)人為南麟電子，發(fā)明人是李孝琛、阮潔娜、崔鳳敏、許佳佳。專利授權(quán)日為2023年9月15日，專利名稱為“芯片測(cè)試選擇電路及芯片測(cè)試系統(tǒng)”，專利類型為中國(guó)實(shí)用新型專利，專利申請(qǐng)?zhí)枮镃N202320414788.5。

該專利摘要顯示：本實(shí)用新型提供一種芯片測(cè)試選擇電路及芯片測(cè)試系統(tǒng)，包括控制信號(hào)產(chǎn)生單元以及選擇單元；控制信號(hào)產(chǎn)生單元的輸入端連接輸入信號(hào)，輸出端連接選擇單元的輸入端，基于輸入信號(hào)發(fā)出相應(yīng)的控制信號(hào)；選擇單元連接控制信號(hào)，并基于控制信號(hào)產(chǎn)生選擇信號(hào)，基于所述選擇信號(hào)選通相應(yīng)的測(cè)試通道進(jìn)行芯片測(cè)試。本實(shí)用新型可以實(shí)現(xiàn)在芯片測(cè)試箱外，通過單片機(jī)控制完成對(duì)大規(guī)模芯片的測(cè)試工作，在避免了外部干擾對(duì)采集數(shù)據(jù)的影響的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)了芯片的自動(dòng)測(cè)試以及單個(gè)檢測(cè)的設(shè)置，操作簡(jiǎn)便。

(記者 曾健輝)

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